品牌 CHGE

　　型號 CHGE-ORT

　　類型 精密老化箱

　　材質(zhì) 304#

　　溫度范圍 常溫～200（℃）

　　功率 9000（W）

　　工作室尺寸 1000*1600*1200（mm）

　　電源 380

　　適用范圍 電子類產(chǎn)品老化 預(yù)燒老化測試箱

　　產(chǎn)品型號：CHGE-ORT系列

　　預(yù)燒老化測試箱

　　概述：預(yù)燒老化測試箱適用于電腦主板及聲卡、顯卡等配件大批量生產(chǎn)企業(yè)；適用于交換機(jī)、電話機(jī)、手機(jī)、網(wǎng)絡(luò)終端等通訊設(shè)備生產(chǎn)廠家；適用于厚膜、薄膜等微電子電路元件壽命老化試驗；適用于電子元器件的老化篩選試驗。

　　預(yù)燒老化測試箱詳細(xì)資料

　　一、特點：整機(jī)外箱鋼板經(jīng)酸洗、磷化、防銹噴塑處理，內(nèi)貼24K鋁鉑保溫玻璃棉；不銹鋼內(nèi)膽、數(shù)顯控溫、帶超溫保護(hù)、室溫附近的溫度也可恒溫，溫場均勻；可按照用戶的要求制作臺車及產(chǎn)品制具，并提供插座電源及故障指示燈；可外加DC電源供應(yīng)設(shè)備及自動測試系統(tǒng)。

　　二、執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)JB/T5520-1991干燥箱技術(shù)條件

　　三、用途適用于電腦主板及聲卡、顯卡等配件大批量生產(chǎn)企業(yè)；適用于交換機(jī)、電話機(jī)、手機(jī)、網(wǎng)絡(luò)終端等通訊設(shè)備生產(chǎn)廠家；適用于厚膜、薄膜等微電子電路元件壽命老化試驗；適用于電子元器件的老化篩選試驗。

　　四、預(yù)燒目的對元器件進(jìn)行篩選，為了移出早期故障元件，這是一種經(jīng)濟(jì)的篩選方式，用來控制產(chǎn)品成本和質(zhì)量，提高產(chǎn)品的可靠性，同時幫助決策改善系統(tǒng)的缺點是否將將會付出更多的代價。

　　五、典型應(yīng)用：富士康鴻富錦精密工業(yè)有限公司桑達(dá)實業(yè)股份有限公司